玉崎供应日本AE-MIC爱米克AE-162D用于超高速芯片电阻测试-池田屋实业（深圳）有限公司

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玉崎供应日本AE-MIC爱米克AE-162D用于超高速芯片电阻测试

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玉崎供应日本AE-MIC爱米克AE-162D用于超高速芯片电阻测试

D、F、G、J、K类、片式、Melf、
径向、轴向电阻器
分选机和编带机的理想选择

测量范围和基本精度（环境温度23℃±5℃），校准后180天[校准后1年：1.5倍]

测量范围	标准值设定范围	测量电流	测量精度^*
测量范围	标准值设定范围	测量电流	慢的	快速地
100毫欧	5mΩ～100mΩ	100毫安	±0.02%±2a±2d以内	±0.03%±3a±2d±[2/(1+n)]d以内
1Ω	100.1mΩ～1Ω	100毫安	±0.02%±a±1d以内	±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d以内
10Ω	1.001Ω～10Ω	50毫安	±0.02%±a±1d以内	±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d以内
100Ω	10.01Ω～100Ω	10毫安	±0.02%±1d以内	±0.02%±2d±[1/(1+n)]d以内
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	5毫安
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.5毫安
100kΩ	10.01kΩ～100kΩ	50μA
1兆欧	100.1kΩ～1MΩ	5μA		±0.05%±2d±[1/(1+n)]d以内
10兆欧	1.001MΩ～10MΩ	0.5μA	±0.03%±1d以内	±0.2%±4d±[1/(1+n)]d以内
100兆欧	10.01MΩ～109MΩ	0.05μA	±0.1%±2d以内	────

* d = 位数，n = 积分时间（毫秒），% 测量：α =（100/标准设定值 mΩ）x 0.01%，值测量：α = 0（加上 ±1d）
* 屏蔽时的完整精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢的	快速地	慢的	快速地
	约18毫秒～400毫秒	约0.7毫秒～400毫秒	约30次/秒～约2次/秒	约 60 次/秒至约 2 次/秒

*由于改进，规格如有更改，恕不另行通知。